Stickstoffdünger
UAN · Harnstoff
- Harnstoff- und Ammoniumnitrat-Konzentration und -Verhältnis in UAN, mit Lösungshomogenität.
- Chargenqualität inline verifiziert, ohne manuelle Probenahme.
Spectrally Process Analytics Roadshow · Kalifornien · Herbst 2026
Ein eintägiger, praxisorientierter Workshop zur modernen Prozessanalytik
Ein praktischer Einblick, was moderne Prozessanalysatoren direkt in Ihrer Linie messen können, wie dieser Messwert im Vergleich zu einem Laborergebnis abschneidet und wo er platziert werden muss, um tatsächlich eine Entscheidung zu beeinflussen. Wir führen dies live am Spectrally X1 INLINE vor.
Automatische KalibrierungReferenz in die Sonde integriert, keine manuelle Nachkalibrierung
Hochviskose MedienMisst zuverlässig, wo Sedimente oder zähflüssige Medien andere Sonden überziehen
Dedizierte chemometrische ModelleTrainiert auf Ihren Prozess, nicht auf eine generische Bibliothek
Inline-Messung, ausgelegt für Ihren Prozess
Der Workshop konzentriert sich auf die Inline-Kompositionsmessung in den Prozessen, die wir am besten kennen. Finden Sie unten Ihre Chemie und sehen Sie, was wir direkt in der Linie messen.
Jede Messung wird validiert und Störungen werden automatisch kompensiert, sodass ein Bediener auf den Messwert reagieren kann. Ergebnisse werden über OPC UA oder Modbus TCP an Ihr DCS oder PLC übermittelt.
Silikone
Hochreines PDMS · LSR · Vinylsilikon
- D4 / D5 / D6-Cyclen im Vergleich zu Linearen, mit der Cyclen-zu-Linearen-Verteilung.
- Si-H- und Vinyl-C=C-Vernetzung für Aushärtungszustand und Reaktionsendpunkt.
Thiosulfate · ATS
Ammonium- und Kaliumthiosulfat
- Thiosulfat-Konzentration, N/S-Verhältnis und Homogenität, inline.
- ATS / KTS / MTS-Mischungen vor dem Versand auf Einhaltung der Spezifikationen geprüft.
Beschichtungsharze
UP-Harz · Acryl / VAE · Epoxid
- Säurezahl und Veresterungsendpunkt bei ungesättigten Polyesterharzen, inline.
- Monomerumsatz und Copolymerprofil in Acryl- und VAE-Emulsionen.
Ziel des Workshops
Standard-Prozessanalysatoren vs. moderne Analysatoren
Die meisten Anlagen haben bereits einen Prozessanalysator in der Linie im Einsatz. Jede Zeile rechts zeigt, was wir Ihnen live am Gerät vorführen.
Standard-AnalysatorenModerne Analysatoren
Messung
Ein Parameter pro Sonde, eine Kalibrierkurve
→
Mehrkomponentenmessung – erfasst Abweichungen und Verunreinigungen im selben Durchgang
Ausgabe
Rohsignal oder Spektrum – jemand muss es noch interpretieren
→
Automatische Interpretation – ein validierter Wert, bereit für Entscheidungen
Feldbeständigkeit
Verschmutzt oder wird in viskosen oder sedimentreichen Strömen beschichtet
→
Selbstreinigende Sonde – misst kontinuierlich im gleichen Medium
Umgebung
Benötigt einen kontrollierten Schrank für den Einsatz in staubigen oder ATEX-zertifizierten Bereichen
→
Für den direkten Einsatz in Staub, Feuchtigkeit, Vibration, ATEX-Zonen ausgelegt
Platzbedarf
Etwa so groß wie zwei alte CRT-Fernseher
→
Etwa so groß wie ein halber Schuhkarton
Integration
Analogsignal, kundenspezifische Verkabelung zum DCS
→
Natives OPC UA / Modbus TCP direkt ins DCS oder die SPS
Wen Sie treffen werden
Veranstaltungsdetails
Eine halbtägige Vor-Ort-Sitzung am Los Angeles Trade-Technical College – Prozesstechnologie.
Los Angeles Trade-Technical College – Prozesstechnologie
400 W Washington Blvd
Los Angeles, CA 90015
Los Angeles, CA 90015
- Parken vor Ort
- Einzelgespräche mit unseren Ingenieuren
- Mittagessen wird gestellt
Beispielhafte Workshop-Agenda
9:00 UhrAnmeldung und Kaffee
9:30 UhrModerne Prozessanalytik: Was Sie heute direkt in der Linie messen können und wie es gegen das Labor validiert wird
10:15 UhrIdentifizierung der richtigen Messpunkte: Abbildung Ihres Prozesses, um zu finden, wo eine Messung eine Entscheidung ändert
11:00 UhrKaffeepause
11:15 UhrArbeitsdemonstration: Inline-Ablesung der Zusammensetzung mit dem Spectrally X1 INLINE an repräsentativen Medien (Silikon, UP-Harz, ATS, UAN)
12:00 UhrVon der Labormethode zu einer validierten Inline-Messung: Probenahme, Kalibrierung, Störgrößenkompensation und Integration in DCS / SPS
12:30 UhrMittagessen und informelle Diskussion
13:00 UhrIndividuelle technische Diskussion über Ihren Prozess und Ihre Messpunkte
Das Programm ist an beiden Terminen identisch; wählen Sie daher den 29. oder 30. Oktober, je nachdem, was Ihnen passt. Die Plätze sind begrenzt; wir bestätigen Ihren Platz per E-Mail, sobald Sie ihn anfordern.
Spectrally Process Analytics Roadshow · USA · Herbst 2026
Wir führen denselben eintägigen Vor-Ort-Workshop an acht US-Standorten durch. Jeder Standort wird an zwei Terminen angeboten, sodass Sie den für Sie passenden Tag besuchen können. Das Programm läuft von 9:00 bis 13:30 Uhr. Finden Sie den Standort, der Ihrem Standort am nächsten liegt.
NordostenLanghorne, PA5. oder 6. Oktober 2026→
Ohio-TalColumbus, OH8. oder 9. Oktober 2026→
Große SeenJoliet, IL12. oder 13. Oktober 2026→
SüdostenDallas, NC15. oder 16. Oktober 2026→
FloridaBartow, FL19. oder 20. Oktober 2026→
Golfküste · LouisianaGonzales, LA22. oder 23. Oktober 2026→
Golfküste · TexasPasadena, TX26. oder 27. Oktober 2026→
KalifornienDieser StandortLos Angeles, CA29. oder 30. Oktober 2026
Pazifischer NordwestenScappoose, OR2. oder 3. November 2026→
Reservieren Sie Ihren Platz
Hinterlassen Sie Ihre E-Mail-Adresse und teilen Sie uns mit, ob Sie teilnehmen können – wir bestätigen Ihren Platz und senden Ihnen die Veranstaltungsdetails sowie die Tagesordnung. Falls keiner der Termine passt, wählen Sie „Nein“ oder „Vielleicht“, und wir werden uns mit Ihnen in Verbindung setzen, auch bezüglich unseres 5-tägigen analytischen Messtechnik-Audits.